Высокоточная микрофокусная рентгеновская инспекционная машина с программированием партий на ПКБ

Система рентгеновского контроля S7200 — это высокопроизводительное рентгеновское решение с закрытым микрофокусом для неразрушающего контроля (NDT) электроники, литиевых батарей и промышленных компонентов, оснащенное источником Hamamatsu и плоскопанельным детектором iRay сверхвысокой четкости. Система оснащена автоматическим обнаружением дефектов, пакетным программированием с ЧПУ и анализом пустот/пузырьков, что делает ее идеальной для анализа пустот BGA, проверки пайки печатных плат и проверки компонентов аэрокосмической отрасли.

Микрофокусная визуализация высокого разрешения
Оснащен герметичной рентгеновской трубкой Hamamatsu и фокусным пятном 5–15 мкм для сверхтонкого обнаружения дефектов, идеально подходит для анализа BGA, IC и печатных плат.

Контроль партии с ЧПУ в реальном времени

Поддерживает автоматизированное пакетное тестирование с помощью программирования ЧПУ для повторяемых измерений без участия оператора с сохранением изображений и составлением отчетов.

Комплексный анализ дефектов
Обнаруживает пустоты, трещины, перемычки и микропузырьки с высокой точностью; поддерживает расчет скорости пузырьков, измерение расстояния, угла, площади и кривизны.

Интеллектуальное улучшение изображения
Программное обеспечение позволяет оперативно регулировать яркость, контрастность и усиление с помощью пользовательских предустановок для повторного тестирования продукта.

Интегрированный вывод данных
Результаты проверки можно экспортировать в форматы CSV и изображений, что обеспечивает беспрепятственное документирование, отслеживание и проверку в автономном режиме.

Соответствие требованиям радиационной защиты
Трехслойная защита сталь-свинец-сталь обеспечивает уровень выбросов ниже 0,5 Зв/ч, что превышает международные стандарты безопасности.

Изображение рентгеновского контроля/изображение случая досмотра

Технические характеристики