ИИ рентгеновская система повышает качество производства электронических батарей

В стремлении к безупречному производству электроники микроскопические дефекты часто представляют собой критическую угрозу качеству.эти невидимые недостатки не только подрывают производительность продукта, но и могут вызвать инциденты с безопасностьюОсновная задача отрасли заключается в точном и эффективном выявлении этих скрытых рисков.объединение передовых технологий искусственного интеллекта с передовым оборудованием для проведения революционных неразрушающих испытаний электронных агрегатов, литийные батареи и промышленные компоненты.

Система S-7600 устанавливает новые стандарты в области неразрушающего тестирования (NDT) с помощью исключительных возможностей визуализации и интеллектуального анализа:

Система, оснащенная японским микрофокусным рентгеновским источником Hamamatsu, генерирует лучи с высокой плотностью энергии с минимальными дивергенциями, обеспечивая превосходную проницаемость и точность.В сочетании с детектором сверхвысокой четкости iRay с аморфным кремниевым плоским панелем, он достигает разрешения на уровне пикселей для захвата микроскопических структурных деталей с непревзойденной ясностью, что позволяет чувствительно обнаруживать несоответствия материала.

Превзойдя обычные устройства визуализации, S-7600 работает как интеллектуальная диагностическая платформа.

• Дефекты сварных соединений:Пустоты, мосты, недостаточная/избыточная сварка
• Вопросы компонентов:Отсутствующие/неправильно выровненные компоненты
• Аномалии батареи:Дефекты обмотки электродов, загрязнители, переломы
• Структурные дефекты:Чужеродные частицы, сбои в работе цепей, сбои в инкапсуляции

Благодаря оптимизации машинного обучения система достигает высокоточности автоматизированной инспекции, значительно снижая человеческие ошибки и трудовые потребности.

Система CNC (Computer Numerical Control) обеспечивает точность позиционирования до микрона, обеспечивая оптимальное выравнивание рентгеновского луча для комплексного многоугольного сканирования сложных компонентов.

Упрощенные рабочие процессы программирования позволяют пользователям обучать систему стандартным компонентам, автоматически генерируя протоколы проверки, идеально подходящие для больших объемов, многовариантной производственной среды.

Разработанный для промышленных нужд, S-7600 превосходит в строгих приложениях:

Система, предназначенная для бесперебойного производства, обеспечивает мониторинг качества в режиме реального времени для предотвращения дефектов партии в производстве электроники и батарей.

• Производство SMT:Совместная проверка BGA, QFP, FPC и IC сварщиков
• Производство батарей:18650/21700 выстраивание электродов цилиндрических ячеек, целостность сепаратора, распределение электролитов
• Опаковка полупроводников:Сцепление проволоки, паяльные шарики, качество инкапсуляции
• Промышленные компоненты:Точные механические части, анализ медицинских изделий

Многослойная экранизация (сталь-свинцовая-сталь) и смотровая зона с свинцовым стеклом обеспечивают утечку излучения ниже 0,5 мкЗв/ч 50% в соответствии с национальными порогами безопасности.

В соответствии со стандартами промышленности 4.0, система позволяет управлять качеством на основе данных:

Бесшовная интеграция с системами производства облегчает загрузку данных в реальном времени для отслеживания производства и централизованного контроля качества.

Автоматическое объединение штрих-кодов создает всеобъемлющие записи качества, упрощая отслеживание дефектных продуктов.

Анализ, основанный на искусственном интеллекте, генерирует подробные отчеты о моделях дефектов, частоте и распределении, что позволяет улучшать целенаправленные процессы.

• Основана в 2011 году со специализацией в переработке BGA и рентгеновской инспекции
• Сертификат ISO9001, CE и FDA с несколькими запатентованными технологиями
• 10Объект площадью 1000 м2 в Шэньчжэне, обслуживающий мировые рынки
• Комплексная поддержка, включая круглосуточную техническую помощь, годовую гарантию и учебные ресурсы

S-7600 представляет собой смену парадигмы в обеспечении качества производства.он обеспечивает беспрецедентные возможности обнаружения дефектов, одновременно позволяя интегрировать интеллектуальные фабрики, что является критическим преимуществом в современном конкурентном ландшафте производства электроники и батарей..